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2025 article

Crystal Growth, Optical, and Scintillation Properties of Eu²+-Doped TlSr₂Br₅

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Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Crystals of undoped and Eu2+-doped TlSr2Br5of up to 16 mm in diameter and 50 mm in length were grown by the Vertical Bridgman technique. TlSr2Br5has the monoclinic crystal structure with space group P21/c. Its density and Zeffare 5.03 g/cm3and 58.6, respectively. Radioluminescence spectra of undoped and Eu2+-doped TlSr2Br5feature a broad emission band peaking at about 440 nm for undoped and 520 nm for Eu2+-doped crystals. The light yield of undoped TlSr2Br5is 42,000 ph/MeV, which increases to 55,000 ph/MeV for Eu2+-doped crystals. The energy resolution at 662 keV (137Cs) is about 5 – 6% (FWHM). The scintillation decay of undoped and Eu2+-doped TlSr2Br5is of the order of 100s of nanoseconds.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Crystal Growth, Optical, and Scintillation Properties of Eu²+-Doped TlSr₂Br₅
Date Crossref
01/08/2025
Éditeur
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Radiation Monitoring Devices (United States) pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • University of Tennessee at Knoxville Scintillation Materials Research Center pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Inc. Radiation Monitoring Devices pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • Scintillation Materials Research Center University of Tennessee pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure

Radiation Monitoring Devices (United States), Scintillation Materials Research Center — University of Tennessee at Knoxville et Radiation Monitoring Devices — Inc., avec 1 autre affiliation.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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