Study of surfaces of insulating materials by near-edge X-ray absorption fine structure spectroscopy in total-electron-yield mode
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4Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Study of surfaces of insulating materials by near-edge X-ray absorption fine structure spectroscopy in total-electron-yield mode
- Date Crossref
- 01/09/2025
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Hiroshima UniversityNational Institute of Advanced Industrial Science and TechnologyChiba UniversityKyushu University
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Electron and X-Ray Spectroscopy TechniquesX-ray Spectroscopy and Fluorescence AnalysisAdvanced Electron Microscopy Techniques and Applications