Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2025 article

femto-PIXAR: a self-supervised neural network method for reconstructing femtosecond X-ray free electron laser pulses

1Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
5Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : de, us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

X-ray free electron lasers (X-FELs) produce ultrafast pulses in a wide range of lasing configurations, supporting a wide variety of scientific applications, including structural biology, materials science, and atomic and molecular physics. Shot-by-shot characterization of the X-FEL pulses is crucial for the analysis of experiments as well as for tuning the X-FEL performance. However, for the weak pulses found in advanced configurations, e.g., those needed for monochromatic, two-pulse studies of quantum materials, there is no current method for reliably resolving pulse profiles. Here, we show that an interpretable neural network (NN) model can reconstruct the individual pulse power profiles for sub-picosecond pulse separation without the need for simulations. Using experimental data from low-signal X-FEL pulse pairs, we demonstrate a NN can learn the pulse characteristics on a shot-by-shot basis when conventional methods fail. This new method enables the characterization of weak pulses-a condition expected to dominate future experimental configurations such as at the Linac Coherent Light Source-II-and opens the door to a wide range of new experiments.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
femto-PIXAR: a self-supervised neural network method for reconstructing femtosecond X-ray free electron laser pulses
Date Crossref
16/07/2025
Éditeur
Optica Publishing Group
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced X-ray Imaging TechniquesAdvanced Electron Microscopy Techniques and ApplicationsX-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.