Generative resolution-enhanced microscopy based on computational stitching of Fourier spectra
Rattachement africain : gr, gb. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Scanning Microscopies such as Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM) are widely used in nanotechnology to display (Kalinin et al., 2023) and quantify surface nanoroughness. However, their measurements suffer from scale and spatial limitations which hinder their full exploitation in the optimization of nanostructure fabrication and performance. The aim of this work is to overcome these limitations by proposing a computational method which enables the generation of multiple surface measurements (overcome spatial limitation) with enhanced scale content and increased resolution (overcome scale limitation) successfully mimicking the real surfaces. The method exploits the benefits of Fourier transform and is easily implemented based on Fourier spectra stitching. It can provide astonishing increase of resolution (>10 times) in a large variety of image textures and, is fast with no requirements for training with large data sets. The so-called generative Fourier Spectra Stitching (gFSS) method is validated in synthesized rough surfaces and applied in real experimental AFM and SEM images of magnetic and metal surfaces with very promising results.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Generative resolution-enhanced microscopy based on computational stitching of Fourier spectra
- Date Crossref
- 01/09/2025
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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National Centre of Scientific Research "Demokritos" pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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University College London Nanoengineered Systems Laboratory pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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National and Kapodistrian University of Athens Institute of Nanoscience and Nanotechnology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Institute of Nanoscience and Nanotechnology pays non établi dans la noticeStructure de recherche
National Centre of Scientific Research "Demokritos", Nanoengineered Systems Laboratory — University College London et Institute of Nanoscience and Nanotechnology — National and Kapodistrian University of Athens, avec 1 autre affiliation.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.