Layer-resolving ability and model analysis of LIBS for multilayer samples with a four-layer structure under different focusing conditions
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Le résumé fourni par la source
Research on LIBS depth profiling and modeling of multilayered deposited layers, as well as the resolving ability of Ni interlayers, provides data references and a parameter optimization scheme for in situ LIBS diagnosis.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Layer-resolving ability and model analysis of LIBS for multilayer samples with a four-layer structure under different focusing conditions
- Date Crossref
- 01/01/2025
- Éditeur
- Royal Society of Chemistry (RSC)
- Type
- journal-article
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Où se fait cette recherche
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Dalian University of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Key Laboratory of Materials Modification by Laser pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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School of Physics Key Laboratory of Materials Modification by Laser pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Dalian University of Technology, Key Laboratory of Materials Modification by Laser et Key Laboratory of Materials Modification by Laser — School of Physics.
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