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Accès ouvert déclaré 2025 article

Inhibiting Ionic Migration by Potassium Ion Doping for Sensitive BA2MA3Pb4I13 Perovskite X‐Ray Detector

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Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Lead‐based halide perovskites have excellent photoelectric properties and are considered as one of the most promising materials for X‐ray detection. At present, the degradation of lead‐based materials due to ion migration phenomenon and the long‐term instability of the prepared devices are still important problems that hinder their practical application. Herein, KI is incorporated into the BA2MA3Pb4I13 polycrystalline detector fabricated via the lamination method. The introduction of KI enhances both the crystallization quality and charge carrier transport capability of the perovskite polycrystalline film. By introducing K+ ions into the interstitial site of perovskite, the effective channel for ion migration is reduced, leading to increased ion activation energy, and then the ion migration in perovskite is effectively inhibited. Consequently, the prepared X‐ray detector exhibits improved stability, with a sensitivity of 6250 μC Gyair−1 cm−2 and a detection limit of 19.7 nGyair s−1. This study broadens the idea of enhancing the stability of perovskite and lays a research foundation for its practical application.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.

Titre Crossref
Inhibiting Ionic Migration by Potassium Ion Doping for Sensitive BA<sub>2</sub>MA<sub>3</sub>Pb<sub>4</sub>I<sub>13</sub> Perovskite X‐Ray Detector
Date Crossref
22/05/2025
Éditeur
Wiley
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Sichuan University pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • China Academy of Engineering Physics pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • Chengdu University pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Sichuan Research Center of New Materials pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

Sichuan University, China Academy of Engineering Physics et Chengdu University, avec 1 autre affiliation.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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