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Accès ouvert déclaré 2024 conference-paper

PET ROCK: Persistent Event-based sensing at Testbeds Real-world Objective Comparison of Key-hardware

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Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Goals and ObjectivesWhile recent studies have demonstrated event-based sensing (EBS) as a promising remote detection technology, there have been no direct comparisons of EBS against more traditional technologies in real-world proliferation detection scenarios.This project will prove with quantifiable results how event-based sensing compares to state-of-the-art sensing in nuclear nonproliferation monitoring scenarios. MethodsTo support the direct comparison of event-based sensing and more traditional remote sensing technologies, a self-contained system is being built to handle power, data management, edge processing, and sensor support.Data management and edge processing are being handled by four Nvidia Jetson processors.The primary sensors are: • Prophesee EVK4-HD event-based sensor • Pixelink HD framing camera • Custom single pixel radiometer Several secondary sensors are included to support future remote sensing data fusion efforts.These sensors include and infrared event-based sensor, an acoustic phased array, and an RF spectrum analyzer.Lastly, a variety of environmental and state of health sensors are included.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
PET ROCK: Persistent Event-based sensing at Testbeds Real-world Objective Comparison of Key-hardware
Date Crossref
01/04/2024
Éditeur
US DOE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Sandia National Laboratories pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

Sandia National Laboratories.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Radiation Effects in ElectronicsCCD and CMOS Imaging SensorsIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis

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