An SVD-based method for DBS artifact removal: High-fidelity restoration of local field potential
1Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
3Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- An SVD-based method for DBS artifact removal: High-fidelity restoration of local field potential
- Date Crossref
- 01/10/2025
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Capital Medical University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Chinese Academy of Sciences pays non établi dans la noticeOrganisme public
-
Shenzhen Institutes of Advanced Technology pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
School of Basic Medical Sciences Department of Neurobiology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
The Brain Cognition and Brain Disease Institute pays non établi dans la noticeStructure de recherche
Capital Medical University, Chinese Academy of Sciences et Shenzhen Institutes of Advanced Technology, avec 2 autres affiliations.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Advanced MRI Techniques and ApplicationsIntegrated Circuits and Semiconductor Failure AnalysisForce Microscopy Techniques and Applications