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2025 article

Towards a quantum realization of the ampere using single-electron resolution Skipper-CCDs

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5Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us, ar. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Abstract This paper presents a proof-of-concept demonstration of the Skipper-charge coupled device (CCD), a sensor with single-electron counting capability, as a promising technology for implementing an electron-pump-based current source. Relying on its single-electron resolution and built-in charge sensing, it allows self-calibration of the charge packets. This article presents an initial discussion of the uncertainty in the charge measurement and achievable currents levels with this technology. We report experimental results that illustrate the key functionalities in manipulating both small and large electron charge packets, including a comparison of the charge generated, self-measured, and drained by the sensor against measurements from an electrometer. These results were obtained using a standard sensor and readout electronics without specific optimizations for this application. The objective is to explore the potential of Skipper-CCD for realizing an electron-based current source.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Towards a quantum realization of the ampere using single-electron resolution Skipper-CCDs
Date Crossref
09/05/2025
Éditeur
IOP Publishing
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

CCD and CMOS Imaging SensorsAdvanced Electron Microscopy Techniques and ApplicationsIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis

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