Integration of Monte Carlo Transport Simulations Into a TCAD Workflow for Electron Detector Developments
Rattachement africain : fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
A new methodology is presented and allows for the integration of Monte Carlo electron distributions into the Sentaurus workflow for the development of electron detector applied to transmission microscopes. The proposed method consists in converting electron positions generated by the Monte Carlo software in an optical generation file, which can be used in Sentaurus device simulations. Results are validated by means of comparisons between electron distribution provided by the two simulators, and by a comparison with an experiment. Limitations are also discussed.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Integration of Monte Carlo Transport Simulations Into a TCAD Workflow for Electron Detector Developments
- Date Crossref
- 01/06/2025
- Éditeur
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
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