Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2025 conference-paper

Improving Integrated Gradient-based Transferable Adversarial Examples by Refining the Integration Path

8Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
0Institutions déclarées
0Pays d’affiliation déclarés

Le résumé fourni par la source

Transferable adversarial examples are known to cause threats in practical, black-box attack scenarios. A notable approach to improving transferability is using integrated gradients (IG), originally developed for model interpretability. In this paper, we find that existing IG-based attacks have limited transferability due to their naive adoption of IG in model interpretability. To address this limitation, we focus on the IG integration path and refine it in three aspects: multiplicity, monotonicity, and diversity, supported by theoretical analyses. We propose the Multiple Monotonic Diversified Integrated Gradients (MuMoDIG) attack, which can generate highly transferable adversarial examples on different CNN and ViT models and defenses. Experiments validate that MuMoDIG outperforms the latest IG-based attack by up to 37.3% and other state-of-the-art attacks by 8.4%. In general, our study reveals that migrating established techniques to improve transferability may require non-trivial efforts.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Improving Integrated Gradient-based Transferable Adversarial Examples by Refining the Integration Path
Date Crossref
11/04/2025
Éditeur
Association for the Advancement of Artificial Intelligence (AAAI)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les sujets associés

Adversarial Robustness in Machine LearningIntegrated Circuits and Semiconductor Failure AnalysisElectrostatic Discharge in Electronics

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.