2025 article

Surface defect detection using distributed features

The Van Le, Jordan Daniel Joshua, Tae-Hwan Kim, Jinhyuk Lee, Seong Han Kim, Jin Young Lee

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Titre Crossref: Surface defect detection using distributed features
Date Crossref: 01/07/2025
Éditeur: Elsevier BV
Type: journal-article

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Sejong University

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Sujets associés

Industrial Vision Systems and Defect DetectionImage and Object Detection TechniquesSurface Roughness and Optical Measurements

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