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Accès ouvert déclaré 2025 article

The Influence of Ionizing Radiation on Quantification for In Situ and Operando Liquid‐Phase Electron Microscopy

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2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : de, us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

The ionizing radiation harnessed in electron microscopes or synchrotrons enables unique insights into nanoscale dynamics. In liquid-phase transmission electron microscopy (LP-TEM), irradiating a liquid sample with electrons offers access to real space information at an unmatched combination of temporal and spatial resolution. However, employing ionizing radiation for imaging can alter the Gibbs free energy landscape during the experiment. This is mainly due to radiolysis and the corresponding shift in chemical potential; however, experiments can also be affected by irradiation-induced charging and heating. In this review, the state of the art in describing beam effects is summarized, theoretical and experimental assessment guidelines are provided, and strategies to obtain quantitative information under such conditions are discussed. While this review showcases these effects on LP-TEM, the concepts that are discussed here can also be applied to other types of ionizing radiation used to probe liquid samples, such as synchrotron X-rays.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
The Influence of Ionizing Radiation on Quantification for In Situ and Operando Liquid‐Phase Electron Microscopy
Date Crossref
21/02/2025
Éditeur
Wiley
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced Electron Microscopy Techniques and ApplicationsElectron and X-Ray Spectroscopy TechniquesIron oxide chemistry and applications

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