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2025 article

3D Gaussian Splatting: Survey, Technologies, Challenges, and Opportunities

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3Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : cn, us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

3D Gaussian Splatting (3DGS) has emerged as a prominent technique with the potential to become a mainstream method for 3D representations. It can effectively transform multi-view images into explicit 3D Gaussian through efficient training, and achieve real-time rendering of novel views. This survey aims to analyze existing 3DGS-related works from multiple intersecting perspectives, including related tasks, technologies, challenges, and opportunities. The primary objective is to provide newcomers with a rapid understanding of the field and to assist researchers in methodically organizing existing technologies and challenges. Specifically, we delve into the optimization, application, and extension of 3DGS, categorizing them based on their focuses or motivations. Additionally, we summarize and classify nine types of technical modules and corresponding improvements identified in existing works. Based on these analyses, we further examine the common challenges and technologies across various tasks, proposing potential research opportunities.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
3D Gaussian Splatting: Survey, Technologies, Challenges, and Opportunities
Date Crossref
01/07/2025
Éditeur
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Surface Roughness and Optical MeasurementsPlasma Diagnostics and ApplicationsIndustrial Vision Systems and Defect Detection

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