Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2025 conference-paper

Characterisation studies of two front-end electronics chips for SiPM-based detectors

0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
4Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : at, cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

A new front-end ASIC named "PIST" (pico-second timing) has been successfully developed using 55 nm CMOS technology for silicon photomultiplier (SiPM) readout with a major aim at fast timing. Extensive tests have been performed to evaluate the timing performance using a dedicated test stand equipped with a PIST chip. The results demonstrate that the system timing resolution can be below 10 ps for large SiPM signals, while the intrinsic timing resolution of the PIST is better than 7 ps. The dynamic range of the PIST has been further extended using the time-over-threshold (ToT) technique. Meanwhile, a new commercial SiPM-readout 32-channel ASIC was characterised for future high-granularity crystal calorimetry developments, including the single-photon calibration and the dynamic range with different gain modes. Comprehensive measurements were made with charge injections and high-energy particles along with scintillating crystals and SiPMs. Preliminary results show that this chip has a promising signal-to-noise ratio and a large dynamic range. This contribution will introduce the two ASICs and present highlighted testing results, including the timing resolution, the single-photon calibration, and the dynamic range.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Characterisation studies of two front-end electronics chips for SiPM-based detectors
Date Crossref
29/01/2025
Éditeur
Sissa Medialab
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Radiation Detection and Scintillator TechnologiesAdvanced Semiconductor Detectors and MaterialsRadiation Effects in Electronics

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.