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Accès ouvert déclaré 2025 article

Aloof Electron Probing of In-Plane Surface Photovoltaic Charge Distributions on GaAs Surfaces

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3Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us, tw. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

The motion of free electrons moving parallel and above a semiconductor surface can be influenced by shining a laser light onto the surface. Here we report strong deflection of aloof electrons by an undoped GaAs surface illuminated with a 633 nm laser. The deflecting electric field from the surface photovoltaic charges extends 100 μm into the vacuum. As surface photovoltage (SPV) is sensitive to the electronic states of the GaAs surface, the aloof electron beam serves as a probe for SPV charge dynamics on the mesoscopic length scale. The observed in-plane SPV charge distribution persists beyond 1 second after the laser beam is blocked. Our work suggests the possibility of writing designed 2D charge patterns on semiconductor surfaces with a scanning laser beam, providing unusual flexibility for electron beam manipulation.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Aloof Electron Probing of In-Plane Surface Photovoltaic Charge Distributions on GaAs Surfaces
Date Crossref
27/01/2025
Éditeur
American Chemical Society (ACS)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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