High-precision SIMS analyses of initial 26Al/27Al in un-melted refractory inclusions: The search for multiple condensation episodes
5Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
4Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : us, ru. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- High-precision SIMS analyses of initial 26Al/27Al in un-melted refractory inclusions: The search for multiple condensation episodes
- Date Crossref
- 01/02/2025
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Smithsonian Institution US National Museum of Natural History pays non établi dans la noticeOrganisme public
-
National Museum of Natural History pays non établi dans la noticeInstitution
-
University of Hawaiʻi at Mānoa pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
V.I. Vernadsky Institute of Geochemistry and Analytical Chemistry pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
University of Hawai‘i at Mānoa Hawai‘i Institute of Geophysics and Planetology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
US National Museum of Natural History — Smithsonian Institution, National Museum of Natural History et University of Hawaiʻi at Mānoa, avec 2 autres affiliations.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Ion-surface interactions and analysisHigh-pressure geophysics and materialsX-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis