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Accès ouvert déclaré 2025 article

Optimizing bendability of flexible electronic devices using a neutral layer strategy

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Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Abstract The neutral layer (NL) strategy is a key technique for improving the bendability of flexible electronic devices. In this study, by considering a three-layer structure as an example, the results obtained by finite element analysis (FEA) showed that the NL gradually moved to the top surface of the film as the film thickness and Young’s modulus increased, which are similar to the results produced by theoretical calculations. Subsequently, we optimized the thickness of a single NL structure and the failure bending radius of an indium tin oxide (ITO) electrode was reduced by 50% after optimization. In order to address the problems that affect the design of a single NL, we used optical clear adhesive (OCA) to generate multiple NLs. The FEA method was again applied to the structure and the results showed that decreasing the elastic modulus of the OCA and film thickness could reduce the maximum strain in the film. Finally, the effects of the OCA parameters on the protection of a multiple-layer ITO electrode structure were verified in bending experiments, which showed that the strain on ITO could be reduced from 5.6% to almost 0 in the two-electrode structure. The proposed strategies for designing single and multiple NLs can provide some guidance to facilitate optimizing the electronic infrastructure of flexible devices.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Optimizing bendability of flexible electronic devices using a neutral layer strategy
Date Crossref
08/01/2025
Éditeur
Springer Science and Business Media LLC
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Shanghai University Key Laboratory of Advanced Display and System Applications pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • School of Microelectronics pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure

Key Laboratory of Advanced Display and System Applications — Shanghai University et School of Microelectronics.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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