In situ growth of Te-doped Cs 2 SnCl 6 scintillator composite films for X-ray imaging
Rattachement africain : tw, cn, by. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Cs 2 SnCl 6 :Te/PMMA CFs were obtained by in situ self-assembly with high dispersion and crystallinity. It exhibited high PLQY and were able to easily capture high-resolution images of an internal structure in X-ray imaging.
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Le contrôle bibliographique ouvert
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- Titre Crossref
- <i>In situ</i> growth of Te-doped Cs <sub>2</sub> SnCl <sub>6</sub> scintillator composite films for X-ray imaging
- Date Crossref
- 01/01/2025
- Éditeur
- Royal Society of Chemistry (RSC)
- Type
- journal-article
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Où se fait cette recherche
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Ministry of Education pays non établi dans la noticeOrganisme public
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Xi'an Jiaotong University Electronic Materials Research Laboratory pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Belarusian State University of Informatics and Radioelectronics pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Ministry of Education, Electronic Materials Research Laboratory — Xi'an Jiaotong University et Belarusian State University of Informatics and Radioelectronics.
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