Accès ouvert déclaré 2024 preprint

Brittle-Ductile Transition Depth Energy Field Model Establishment and Verification of Monocrystalline Silicon Assisted by Ultrasonic Vibration

Yanhao Huo, Ying Niu, Zhipeng Sun, Jingjing Niu, Xiaobin Cui, Feng Jiao

0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
0Institutions déclarées
0Pays d’affiliation déclarés
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Brittle-Ductile Transition Depth Energy Field Model Establishment and Verification of Monocrystalline Silicon Assisted by Ultrasonic Vibration
Date Crossref
01/01/2024
Éditeur
Elsevier BV
Type
posted-content

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les sujets associés

Advanced Surface Polishing TechniquesSilicon and Solar Cell TechnologiesThin-Film Transistor Technologies
Lire en accès ouvert Consulter la publication primaire Ouvrir le DOI

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.