Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2024 article

Considerations for Differences in Melt Growth Kinetics Between II–VI and III–V Compound Crystals

6Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : de. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

The difference in the crystallization kinetics during growth from the melt between II–VIs (CdTe, Cd1−xZnxTe, ZnSe, and ZnTe) and III–Vs (GaAs and InP) is discussed. At the melt growth of II–VI crystals, the most important difference is the lack of controllability of seeding and achievement of a desired growth orientation. A pronounced tendency of self-orientation toward <111>, <110>, and sometimes <112> and <122>, but almost never toward <100> direction, has been observed regardless of whether a seed has been used or not. The main reason proves to be the tetrahedral coordination due to the high binding ratio of ionicity remaining in the II–VI melts but not occurring in III–Vs. As a result, the general effect of pre-ordering into density layers, forced by the solid surface, is in the II–VI liquids superimposed by a {111} self-orientation via tetrahedral in-plane alignment. Fitting growth kinetics seem to only be possible when this melt configuration conforms to the crystal structure, like the {111} but hardly the {100}. Otherwise, the liquid self-orientation determines the continuing crystal orientation. Additionally, an <100>-oriented seed abruptly changed into an <122> direction via a congruent twin plane. Although such considerations still need verifying atomistic simulations, they are helpful to optimize the growth methodology even for larger crystal diameters.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Considerations for Differences in Melt Growth Kinetics Between II–VI and III–V Compound Crystals
Date Crossref
11/12/2024
Éditeur
MDPI AG
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Chalcogenide Semiconductor Thin FilmsAdvanced Semiconductor Detectors and MaterialsSemiconductor Quantum Structures and Devices

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.