Aller au contenu principal
2024 conference-paper

Modeling two- and four-electrode impedance measurements on a layered material

0Citations signalées — pas une note de qualité
1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Résumé fourni par la source

We have used an in silico model to analyse impedance measurements on a layered material. This involves impedance measurements with a two-electrode system and transfer impedance measurements with a four-electrode system. The results indicate that sub-volumes in a material can contribute to the measured impedance in a non-intuitive way. This is particularly the case for the four-electrode system, where e.g. positive phase angle can be measured for a capacitive system or apparent negative resistance can be measured.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Modeling two- and four-electrode impedance measurements on a layered material
Date Crossref
02/10/2024
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude et ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Sujets associés

Electrical and Bioimpedance Tomography

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Recherche à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, ROR et la Banque mondiale, sans clé ; OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant requis, aucune donnée externe enregistrée en base. Sources et limites.