Modeling two- and four-electrode impedance measurements on a layered material
Résumé fourni par la source
We have used an in silico model to analyse impedance measurements on a layered material. This involves impedance measurements with a two-electrode system and transfer impedance measurements with a four-electrode system. The results indicate that sub-volumes in a material can contribute to the measured impedance in a non-intuitive way. This is particularly the case for the four-electrode system, where e.g. positive phase angle can be measured for a capacitive system or apparent negative resistance can be measured.
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Contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Modeling two- and four-electrode impedance measurements on a layered material
- Date Crossref
- 02/10/2024
- Éditeur
- IEEE
- Type
- proceedings-article
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