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2024 article

Terahertz Sensing With CMOS-RFIC:Feasibility Verification for Short-Range Imaging Using 300-GHz MIMO Radar

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Rattachement africain : jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

For solving various social issues, sensing technology has gained significant interest. Terahertz waves, which combine the high resolution of light and transparency of radio waves, enable visualization of obstacles behind internal structures. So, it offers potential for new solutions. This letter introduces the overview of a short-distance sensing system based on the full digital MIMO radar concept, the design, and fundamental evaluation results of 300 GHz RFIC using CMOS technology, as well as the achievements of imaging using 300 GHz terahertz wave based on actual measurements. Since the terahertz band can obtain an ultrawideband spectrum, several millimeter resolution imaging can be performed in azimuth, elevation, and depth direction. We show the feasibility of the security gate application with the measured high-resolution tomographic images.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Terahertz Sensing With CMOS-RFIC:Feasibility Verification for Short-Range Imaging Using 300-GHz MIMO Radar
Date Crossref
01/01/2024
Éditeur
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Mitsubishi Electric (Japan) pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • Information Technology Research and Development Center pays non établi dans la notice
    Institution
  • Information Technology R and D Center pays non établi dans la notice
    Institution

Mitsubishi Electric (Japan), Information Technology Research and Development Center et Information Technology R and D Center.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

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