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2024 conference-paper

Hermite-Gaussian imaging with scanning illumination

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Rattachement africain : gb. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Super-resolution microscopy seeks to surpass the resolution limit dictated by the diffraction of light. Among the various super-resolution methods, far-field are of the particular interest due to their non-invasive nature. For instance, the substitution of uniform sample illumination with a structured light beam enables resolution enhancement without perturbing the sample. Recent breakthroughs in quantum metrology suggest an alternative path: replacing the conventional intensity measurement in the image plane with spatial mode demultiplexing, also known as Hermite-Gaussian imaging (HGI). In this study, we introduce a novel combined technique that takes advantage from improving both measurement and illumination by implementing HGI within the conventional Image Scanning Microscopy (ISM) approach. Our experimental results demonstrate a 2.5-fold improvement in lateral resolution compared to the generalised Rayleigh limit. The combined approach demonstrates superiority over both ISM and HGI individually, enhancing lateral resolution and minimizing the impact of the artefacts on the final image.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Hermite-Gaussian imaging with scanning illumination
Date Crossref
04/10/2024
Éditeur
SPIE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • University of Oxford pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Univ. of Oxford (United Kingdom) pays non établi dans la notice
    Institution

University of Oxford et Univ. of Oxford (United Kingdom).

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Les sujets associés

Advanced Optical Sensing TechnologiesAdvanced Measurement and Metrology Techniques

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