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2024 conference-paper

Low-Resolution-Only Microscopy Super-Resolution Models Generalizing to Non-Periodicities at Atomic Scale

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Rattachement africain : de. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Super-resolution (SR) methods can accelerate microscopy image capturing and improve quality. Yet, training data is often scarce and low in variability, leading to overfitting models that fail to preserve unseen image structures. Therefore, in this work, we investigate SR model generalization in a low-resource domain, here: material science. First, we propose a training pipeline based on PixMix augmentation for microscopy SR using low-resolution only training data to generate pseudo LR/HR training pairs. The augmentation introduces variability into training images by blending them with high-detail out-of-domain images. Second, using scanning transmission electron microscopy (STEM) images, we show that our proposed training pipeline improves the SR model generalization for non-periodic high-resolution test data of crystalline atomic structures, even if only periodic low-resolution data is used for training. Furthermore, our proposed pipeline enables STEM SR models to generalize to images with noise characteristics from an unseen recording session. Third, we investigate effects of mixing augmentation strength. Finally, we validate the usage of PixMix on a more comprehensive STEM dataset. Our results demonstrate that frequent image mixing utilizing high-detail out-of-domain data improves SR generalization within low-resource domains such as atomic-scale STEM images of non-periodic matter. Data and code is available1.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Low-Resolution-Only Microscopy Super-Resolution Models Generalizing to Non-Periodicities at Atomic Scale
Date Crossref
17/06/2024
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced Electron Microscopy Techniques and ApplicationsForce Microscopy Techniques and ApplicationsElectron and X-Ray Spectroscopy Techniques

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