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Accès ouvert déclaré 2024 preprint

Highly accurate assembly polishing with DeepPolisher

4Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
2Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Accurate genome assemblies are essential for biological research, but even the highest quality assemblies retain errors caused by the technologies used to construct them. Base-level errors are typically fixed with an additional polishing step that uses reads aligned to the draft assembly to identify necessary edits. However, current methods struggle to find a balance between over-and under-polishing. Here, we present an encoder-only transformer model for assembly polishing called DeepPolisher, which predicts corrections to the underlying sequence using Pacbio HiFi read alignments to a diploid assembly. Our pipeline introduces a method, PHARAOH (Phasing Reads in Areas Of Homozygosity), which uses ultra-long ONT data to ensure alignments are accurately phased and to correctly introduce heterozygous edits in falsely homozygous regions. We demonstrate that the DeepPolisher pipeline can reduce assembly errors by half, with a greater than 70% reduction in indel errors. We have applied our DeepPolisher-based pipeline to 180 assemblies from the next Human Pangenome Reference Consortium (HPRC) data release, producing an average predicted Quality Value (QV) improvement of 3.4 (54% error reduction) for the majority of the genome.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Highly accurate assembly polishing with DeepPolisher
Date Crossref
19/09/2024
Éditeur
openRxiv
Type
posted-content

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced Surface Polishing TechniquesIntegrated Circuits and Semiconductor Failure AnalysisVLSI and Analog Circuit Testing

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