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Accès ouvert déclaré 2024 article

Optimized Whole-Slide-Image H&E Stain Normalization: A Step Towards Big Data Integration in Digital Pathology

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12Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

In the medical diagnostics domain, pathology and histology are pivotal for the precise identification of diseases. Digital histopathology, enhanced by automation, facilitates the efficient analysis of massive amount of biopsy images produced on a daily basis, streamlining the evaluation process. This study focuses in Stain Color Normalization (SCN) within a Whole-Slide Image (WSI) cohort, aiming to reduce batch biases. Building on published graphical method, this research demonstrates a mathematical population or data-driven method that optimizes the dependency on the number of reference WSIs and corresponding aggregate sums, thereby increasing SCN process efficiency. This method expedites the analysis of color convergence 50-fold by using stain vector Euclidean distance analysis, slashing the requirement for reference WSIs by more than half. The approach is validated through a tripartite methodology: 1) Stain vector euclidean distances analysis, 2) Distance computation timing, and 3) Qualitative and quantitative assessments of SCN across cancer tumors regions of interest. The results validate the performance of data-driven SCN method, thus potential to enhance the precision and reliability of computational pathology analyses. This advancement is poised to enhance diagnostic processes, therapeutic strategies, and patient prognosis.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.

Titre Crossref
Optimized Whole-Slide-Image H&E Stain Normalization: A Step Towards Big Data Integration in Digital Pathology
Date Crossref
01/01/2025
Éditeur
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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