Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2024 article

Suspended tip overhanging from chip edge for atomic force microscopy with an optomechanical resonator

3Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
8Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

International audience

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Suspended tip overhanging from chip edge for atomic force microscopy with an optomechanical resonator
Date Crossref
04/09/2024
Éditeur
SPIE-Intl Soc Optical Eng
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Centre National de la Recherche Scientifique pays non établi dans la notice
    Organisme public
  • Université Fédérale de Toulouse Midi-Pyrénées pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • Université de Toulouse pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives pays non établi dans la notice
    Organisme public
  • CEA Grenoble pays non établi dans la notice
    Organisme public
  • Laboratoire d'Électronique des Technologies de l'Information pays non établi dans la notice
    Organisme public
  • Université Grenoble Alpes pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure

Centre National de la Recherche Scientifique, Université Fédérale de Toulouse Midi-Pyrénées et Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes, avec 5 autres affiliations.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Mechanical and Optical ResonatorsForce Microscopy Techniques and ApplicationsAdvanced MEMS and NEMS Technologies

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.