Atomic force microscopy and scanning electron microscopy for characterization of interface surface roughness after ELITA femtosecond laser treatments
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Atomic force microscopy and scanning electron microscopy for characterization of interface surface roughness after ELITA femtosecond laser treatments
- Date Crossref
- 27/08/2024
- Éditeur
- Springer Science and Business Media LLC
- Type
- posted-content
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Où se fait cette recherche
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Johnson & Johnson (Canada) pays non établi dans la noticeEntreprise
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Universidad de Alcalá pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Johnson & Johnson Surgical Vision pays non établi dans la noticeInstitution
Johnson & Johnson (Canada), Universidad de Alcalá et Johnson & Johnson Surgical Vision.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
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