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2023 conference-paper

Locally controlling the radiative yield of a 2D semiconductor using the tip of an STM

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5Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : br, fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

International audience

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

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Les sujets associés

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