Advanced granulometric characterization of shredded waste printed circuit boards for sampling
8Citations signalées — pas une note de qualité
5Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
Résumé indisponible : les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits depuis son seul titre.
Contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Advanced granulometric characterization of shredded waste printed circuit boards for sampling
- Date Crossref
- 01/10/2024
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude et ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Institutions déclarées
Université Paris Sciences et LettresCentre de GéosciencesCentre National de la Recherche ScientifiqueChimie ParisTechInstitut de Recherche de Chimie Paris
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Sujets associés
Recycling and Waste Management TechniquesExtraction and Separation ProcessesMunicipal Solid Waste Management