Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2024 article

Carbon-based thin films as a suitable alternative to metallized films for the preparation of radioactive sources

1Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
4Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : es. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

A new method for radionuclide labeling by the use of graphene thin films was previously presented. In this work, a comparison among low energy radioactive sources supported on carbonaceous thin films on polyvinyl chloride-polyvinyl acetate copolymer (VYNS), based on the use of aqueous solutions is investigated as a feasible alternative to the traditional metallized films avoiding the downside of the loss of many broken films. Graphene-based materials were prepared by both oxidation-exfoliation-reduction and direct graphite exfoliation routes. In addition, multiwalled carbon nanotubes (MWCNTs) thin films were also evaluated. The stability of both carbonaceous materials aqueous dispersions were studied by using ionic and non-ionic surfactants. Solid carbon-based materials were characterized by X-Ray Diffraction (XRD) and Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) whereas the colloidal nature of the aqueous dispersions was verified by the measurement of Tyndall effect and the morphology of thin films was evaluated by Scanning Electron Microscopy (SEM). 55Fe solutions were used to prepare the radioactive sources on the thin films by quantitative drop deposition. The quality of spectra was measured in a pressurized proportional counter. Results showed a resolution higher than 0.9 keV for all the tested sources. However, MWCNT-based along with non-surfactant sources presented non-adequate escape peaks and low energy tails. On the contrary, all the graphene-based sources prepared using surfactants to stabilize aqueous solutions presented an energy resolution comparable to that of the metallized source while offering notable advantages in terms of cost efficiency and reliability of the as-prepared supports.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Carbon-based thin films as a suitable alternative to metallized films for the preparation of radioactive sources
Date Crossref
01/10/2024
Éditeur
Elsevier BV
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Centro de Investigaciones Energéticas pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • Universidad Nacional de Educación a Distancia pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Universidad Rey Juan Carlos pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Universidad Politécnica de Madrid pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Dept. Química Inorgánica y Química Técnica pays non établi dans la notice
    Institution
  • Instituto de Sistemas Optoeléctronicos y Microtecnología & Departamento de Ingeniería Electrónica pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

Centro de Investigaciones Energéticas, Universidad Nacional de Educación a Distancia et Universidad Rey Juan Carlos, avec 3 autres affiliations.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Graphite, nuclear technology, radiation studiesGraphene research and applicationsRadiation Effects in Electronics

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.