Pairing 1927-nm and 1440-nm Fractional Diode Lasers During Single Session Resurfacing of the Face
Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Pairing 1927-nm and 1440-nm Fractional Diode Lasers During Single Session Resurfacing of the Face
- Date Crossref
- 11/06/2024
- Éditeur
- Ovid Technologies (Wolters Kluwer Health)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Laser and Skin Surgery Center of New York pays non établi dans la noticeÉtablissement de santé
-
NYU Langone Health pays non établi dans la noticeÉtablissement de santé
-
Laser & Skin Surgery Center of New York pays non établi dans la noticeInstitution
-
New York University Langone Health The Ronald O Perelman Department of Dermatology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Laser and Skin Surgery Center of New York, NYU Langone Health et Laser & Skin Surgery Center of New York, avec 1 autre affiliation.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.