Optical coherence tomography of encapsulated two-dimensional materials using extreme ultraviolet radiation from high-harmonic generation sources
Rattachement africain : de. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
We present the investigation of encapsulated two-dimensional materials with extreme ultraviolet (EUV) coherence tomography. This method is demonstrated on encapsulated graphene using EUV radiation produced by a high-harmonic generation source.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Optical coherence tomography of encapsulated two-dimensional materials using extreme ultraviolet radiation from high-harmonic generation sources
- Date Crossref
- 01/01/2024
- Éditeur
- Optica Publishing Group
- Type
- proceedings-article
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Où se fait cette recherche
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Helmholtz Institute Jena pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Friedrich Schiller University Jena Institute of Optics and Quantum Electronics pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Hochschule Mittweida pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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University of Applied Sciences Mittweida pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Helmholtz Institute Jena, Institute of Optics and Quantum Electronics — Friedrich Schiller University Jena et Hochschule Mittweida, avec 1 autre affiliation.
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