SILAR-engineered ZnO thin films: exploring the impact of Ni, Co, and Fe dopants on structural, optical, and electronic properties
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Rattachement africain : Maroc. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- SILAR-engineered ZnO thin films: exploring the impact of Ni, Co, and Fe dopants on structural, optical, and electronic properties
- Date Crossref
- 01/05/2024
- Éditeur
- Springer Science and Business Media LLC
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Université Ibn-Tofail Maroc (code pays fourni par la source)Université ou école supérieure
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Faculty of Sciences Materials and Subatomic Physics Laboratory Kenitra, Maroc (pays nommé en fin d’affiliation)Université ou école supérieure
Université Ibn-Tofail (Maroc) et Materials and Subatomic Physics Laboratory — Faculty of Sciences (Kenitra, Maroc). Pays d’affiliation : Maroc.
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