Non-destructive depth reconstruction of Al-Al2Cu layer structure with nanometer resolution using extreme ultraviolet coherence tomography
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Le résumé fourni par la source
Non-destructive cross-sectional characterization of materials systems with a resolution in the nanometer range and the ability to allow for time-resolved in-situ studies is of great importance in material science. Here, we present such a measurements method, extreme ultraviolet coherence tomography (XCT). The method is non-destructive during sample preparation as well as during the measurement, which is distinguished by a negligible thermal load as compared to electron microscopy methods. Laser-generated radiation in the extreme ultraviolet (XUV) and soft x-ray range is used for characterization. The measurement principle is interferometric and the signal evaluation is performed via an iterative Fourier analysis. The method is demonstrated on the metallic material system Al-Al2Cu and compared to electron and atomic force microscopy measurements. We also present advanced reconstruction methods for XCT, which even allow for the determination of the roughness of outer and inner interfaces.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Non-destructive depth reconstruction of Al-Al2Cu layer structure with nanometer resolution using extreme ultraviolet coherence tomography
- Date Crossref
- 01/05/2024
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
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Où se fait cette recherche
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Friedrich Schiller University Jena pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Schott (Germany) pays non établi dans la noticeEntreprise
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Chemnitz University of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Helmholtz Institute Jena pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Electro Optical Systems (Germany) pays non établi dans la noticeEntreprise
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Fraunhofer Institute for Applied Optics and Precision Engineering pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Leibniz Institute of Photonic Technology pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Hochschule Mittweida pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Indigo Optical Systems GmbH pays non établi dans la noticeEntreprise
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University of Applied Sciences Mittweida pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Friedrich Schiller University Jena, Schott (Germany) et Chemnitz University of Technology, avec 7 autres affiliations.
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