An Effective 1t1r Simulation Method Based on Practical Devices Measurement for Compute in Memory Chip Design
0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
0Institutions déclarées
0Pays d’affiliation déclarés
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- An Effective 1t1r Simulation Method Based on Practical Devices Measurement for Compute in Memory Chip Design
- Date Crossref
- 01/01/2024
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- posted-content
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les sujets associés
Advanced Memory and Neural ComputingFerroelectric and Negative Capacitance DevicesSemiconductor materials and devices