Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2024 article

Impact of MoS2 Monolayers on the Thermoelastic Response of Silicon Heterostructures

2Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
12Institutions déclarées
7Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : ch, it, dk, be, us, fr, de. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

High Resolution Image Download MS PowerPoint Slide Understanding the thermoelastic response of a nanostructure is crucial for the choice of materials and interfaces in electronic devices with improved and tailored transport properties at the nanoscale. Here, we show how the deposition of a MoS 2 monolayer can strongly modify the nanoscale thermoelastic dynamics of silicon substrates close to their interface. We demonstrate this by creating a transient grating with extreme ultraviolet light, using ultrashort free-electron laser pulses, whose ≈84 nm period is comparable to the size of elements typically used in nanodevices, such as electric contacts and nanowires. The thermoelastic response, featuring coherent acoustic waves and incoherent relaxation, is tangibly modified by the presence of monolayer MoS 2 . Namely, we observed a major reduction of the amplitude of the surface mode, which is almost suppressed, while the longitudinal mode is basically unperturbed, aside from a faster decay of the acoustic modulations. We interpret this behavior as a selective modification of the surface elasticity, and we discuss the conditions to observe such effect, which may be of immediate relevance for the design of Si-based nanoscale devices.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.

Titre Crossref
Impact of MoS<sub>2</sub> Monolayers on the Thermoelastic Response of Silicon Heterostructures
Date Crossref
01/07/2024
Éditeur
American Chemical Society (ACS)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • ETH Zurich pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Institute for Quantum Electronics pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • University of Trieste pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Aarhus University Department of Physics and Astronomy pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Università Cattolica del Sacro Cuore pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • KU Leuven pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Columbia University Department of Chemistry pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Elettra-Sincrotrone Trieste S.C.p.A. pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • Lyon 1 Université pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Centre National de la Recherche Scientifique pays non établi dans la notice
    Organisme public
  • Institut Lumière Matière pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • University of Cologne pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure

ETH Zurich, Institute for Quantum Electronics et University of Trieste, avec 9 autres affiliations.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Material Properties and Failure MechanismsThermal properties of materialsFatigue and fracture mechanics

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.