2023 conference-paper

Contrôle local du rendement radiatif d’un semi-conducteur 2D dans un microscope à effet tunnel

Ricardo Javier Peña Román, Rémi Bretel, Delphine Pommier, Luis Enrique Parra López, Étienne Lorchat, Élizabeth Boer-Duchemin, Gérald Dujardin, Borissov Andrei Andrey, Luiz Fernando Zagonel, Guillaume Schull, Stéphane Berciaud, Eric Le Moal

0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
6Institutions déclarées
3Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : br, fr, jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

International audience

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

Aucun DOI disponible pour le contrôle Crossref.

Les institutions déclarées

Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)Université Paris-SaclayInstitut des Sciences Moléculaires d'OrsayInstitut de Physique et Chimie des Matériaux de StrasbourgUniversité de StrasbourgNTT Basic Research Laboratories

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Electron and X-Ray Spectroscopy TechniquesAdvancements in Photolithography TechniquesAdvanced Electron Microscopy Techniques and Applications
Consulter la publication primaire

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.