Field emission characterization of field-aligned carbon nanotubes synthesized in an environmental transmission electron microscope
Rattachement africain : fr, sg. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Optimizing the synthesis of carbon nanotubes (CNTs) for applications like field emission (FE) sources requires a fundamental understanding of the growth kinetics of individual CNTs. In this article, we explore how applying electric fields during CNT synthesis influences the as-grown nanotubes and their FE performance. We observe growth and undertake FE measurements in real time using an environmental transmission electron microscope. This is achieved through a polarizable capacitor gap within a microchip sample heater specifically designed for this purpose. Individual nanotubes are easily resolved and are predominantly single-wall CNTs. At low-applied fields, the growing nanotubes can span the gap and link with the opposite electrode, albeit with some loss due to mechanical failure. With a high-applied field and positive bias for FE, we continue to observe the oriented growth of nanotubes. However, this growth is constrained within the gap due to the possibility of FE occurring during the growth process, which can result in either saturation or damage. At any given time, we have the flexibility to halt the growth process and conduct in situ FE experiments. This approach enables us to comprehensively track the complete development of the CNTs and gain insights into the various mechanisms responsible for limiting the performance of CNT cathodes. Interestingly, we report an original self-oscillation induced destruction mechanism that has not been reported before.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Field emission characterization of field-aligned carbon nanotubes synthesized in an environmental transmission electron microscope
- Date Crossref
- 01/03/2024
- Éditeur
- American Vacuum Society
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Lyon 1 Université pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Centre National de la Recherche Scientifique pays non établi dans la noticeOrganisme public
-
Institut Lumière Matière pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
Université Paris-Saclay pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
École Polytechnique Laboratory of Physics of Interfaces and Thin Films pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Laboratoire de Physique des Interfaces et des Couches Minces pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
National University of Singapore Departments of Physics and Biological Sciences pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Thales (France) pays non établi dans la noticeEntreprise
-
Univ Lyon pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Thales Research and Technology 5 pays non établi dans la noticeInstitution
-
Thales Research and Technology [Palaiseau] (1 Avenue Augustin Fresnel pays non établi dans la noticeInstitution
Lyon 1 Université, Centre National de la Recherche Scientifique et Institut Lumière Matière, avec 9 autres affiliations.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.