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Accès ouvert déclaré 2024 article

Ultrahigh-precision Compton polarimetry at 2 GeV

4Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
8Institutions déclarées
3Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us, ca, cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

We report a high precision measurement of electron beam polarization using Compton polarimetry. The measurement was made in experimental Hall A at Jefferson Lab during the CREX experiment in 2020. A total uncertainty of $dP/P=0.36%$ was achieved detecting the back-scattered photons from the Compton scattering process. This is the highest accuracy in a measurement of electron beam polarization using Compton scattering ever reported, surpassing the groundbreaking measurement from the SLD Compton polarimeter. Such uncertainty reaches the level required for the future flagship measurements to be made by the MOLLER and SoLID experiments.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Ultrahigh-precision Compton polarimetry at 2 GeV
Date Crossref
23/02/2024
Éditeur
American Physical Society (APS)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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