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2023 conference-abstract

Effect of Surface Morphology on GaAs Solar Cells Grown on Planarized Spalled (100) GaAs Substrates

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2Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

We analyze the effect of surface morphology created by planarizing spalled GaAs wafers on GaAs solar cells grown by HVPE. Controlled spalling of (100)-oriented GaAs has potential to reduce substrate costs for III-V photovoltaics (PV); however, it creates regularly faceted surfaces that complicate the growth of high quality III-V PV devices. We leverage the crystallographic-direction-dependent growth capability of hydride vapor phase epitaxy (HVPE) to planarize these faceted GaAs substrates, reducing the surface roughness and degree of faceting. We then demonstrate that GaAs solar cells grown on planarized surfaces are nominally identical to those grown on a planar, epi-ready GaAs surface. We observe slightly degraded device performance in cases where facets are not completely removed. We use device-scale imaging techniques combined with characterization of device cross sections to analyze this performance degradation. Lastly, we discuss the growth mechanisms that contribute to the planarization of faceted surfaces. These investigations into the mechanisms of both device degradation and planarizing growth will ultimately enable high-performing III- V PV with the cost reduction potential of controlled spalling. This advancement, when combined with low-cost epitaxy by HVPE, provides one of the most promising routes to low-cost III- V PV to date.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Effect of Surface Morphology on GaAs Solar Cells Grown on Planarized Spalled (100) GaAs Substrates
Date Crossref
11/06/2023
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

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