Advanced Granulometric Characterization of Shredded Waste Printed Circuit Boards for Sampling
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Contrôle bibliographique ouvert
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- Titre Crossref
- Advanced Granulometric Characterization of Shredded Waste Printed Circuit Boards for Sampling
- Date Crossref
- 01/01/2023
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- posted-content
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Institutions déclarées
ParisTechUniversité Paris Sciences et LettresUniversité Paris Dauphine-PSLChimie ParisTechInstitut de Recherche de Chimie Paris
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Sujets associés
Recycling and Waste Management TechniquesExtraction and Separation ProcessesIndustrial Vision Systems and Defect Detection