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Correction and integration of solid-angle data from the azimuthally resolving 2D detector at ID06-LVP, ESRF

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Rattachement africain : fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

The unique diffraction geometry of ESRF beamline ID06-LVP offers continuous static 2D or azimuthally resolving data collections over all accessible solid angles available to the tooling geometry. The system is built around a rotating custom-built Pilatus3 CdTe 900k-W detector from Dectris, in a configuration equivalent to three butted 300k devices. As a non-standard geometry, here the method of alignment, correction and subsequent integration for any data collected over all solid angles accessible, or over any azimuthal range contained therein, are provided and illustrated by parameterizing and extending existing pyFAI routines. At 1° integrated intervals, and typical distances (2.0 m), the system covers an area of near 2.5 m 2 (100 Mpx square equivalent), to 0.65 Å resolution, at 53 keV from a total dataset of some 312 Mpx. Standard FWHMs of SRM660a LaB 6 vary from 0.005° to 0.01°, depending on beam size, energy and sample dimensions, and are sampled at an elevated rate. The azimuthal range per static frame ranges from <20° to ∼1° over the full range of the detector surface. A full 2θ–intensity data collection at static azimuth takes 1–3 s typically, and can be reduced to ms −1 rates for measurements requiring time-rate determination. A full solid-angle collection can be completed in a minute. Sample detector distances are accessible from 1.6 m to 4.0 m.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Correction and integration of solid-angle data from the azimuthally resolving 2D detector at ID06-LVP, ESRF
Date Crossref
17/10/2023
Éditeur
International Union of Crystallography (IUCr)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

X-ray Spectroscopy and Fluorescence AnalysisX-ray Diffraction in CrystallographyHigh-pressure geophysics and materials

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