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Accès ouvert déclaré 2023 article

Resonant X-ray emission spectroscopy using self-seeded hard X-ray pulses at PAL-XFEL

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4Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : kr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Self-seeded hard X-ray pulses at PAL-XFEL were used to commission a resonant X-ray emission spectroscopy experiment with a von Hamos spectrometer. The self-seeded beam, generated through forward Bragg diffraction of the [202] peak in a 100 µm-thick diamond crystal, exhibited an average bandwidth of 0.54 eV at 11.223 keV. A coordinated scanning scheme of electron bunch energy, diamond crystal angle and silicon monochromator allowed us to map the Ir L β 2 X-ray emission lines of IrO 2 powder across the Ir L 3 -absorption edge, from 11.212 to 11.242 keV with an energy step of 0.3 eV. This work provides a reference for hard X-ray emission spectroscopy experiments utilizing self-seeded pulses with a narrow bandwidth, eventually applicable for pump–probe studies in solid-state and diluted systems.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Resonant X-ray emission spectroscopy using self-seeded hard X-ray pulses at PAL-XFEL
Date Crossref
22/09/2023
Éditeur
International Union of Crystallography (IUCr)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

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