Resonant X-ray emission spectroscopy using self-seeded hard X-ray pulses at PAL-XFEL
Rattachement africain : kr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Self-seeded hard X-ray pulses at PAL-XFEL were used to commission a resonant X-ray emission spectroscopy experiment with a von Hamos spectrometer. The self-seeded beam, generated through forward Bragg diffraction of the [202] peak in a 100 µm-thick diamond crystal, exhibited an average bandwidth of 0.54 eV at 11.223 keV. A coordinated scanning scheme of electron bunch energy, diamond crystal angle and silicon monochromator allowed us to map the Ir L β 2 X-ray emission lines of IrO 2 powder across the Ir L 3 -absorption edge, from 11.212 to 11.242 keV with an energy step of 0.3 eV. This work provides a reference for hard X-ray emission spectroscopy experiments utilizing self-seeded pulses with a narrow bandwidth, eventually applicable for pump–probe studies in solid-state and diluted systems.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Resonant X-ray emission spectroscopy using self-seeded hard X-ray pulses at PAL-XFEL
- Date Crossref
- 22/09/2023
- Éditeur
- International Union of Crystallography (IUCr)
- Type
- journal-article
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Les institutions déclarées
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