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Accès ouvert déclaré 2023 article

Applying a Deep-Learning-Based Keypoint Detection in Analyzing Surface Nanostructures

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Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Scanning tunneling microscopy (STM) imaging has been routinely applied in studying surface nanostructures owing to its capability of acquiring high-resolution molecule-level images of surface nanostructures. However, the image analysis still heavily relies on manual analysis, which is often laborious and lacks uniform criteria. Recently, machine learning has emerged as a powerful tool in material science research for the automatic analysis and processing of image data. In this paper, we propose a method for analyzing molecular STM images using computer vision techniques. We develop a lightweight deep learning framework based on the YOLO algorithm by labeling molecules with its keypoints. Our framework achieves high efficiency while maintaining accuracy, enabling the recognitions of molecules and further statistical analysis. In addition, the usefulness of this model is exemplified by exploring the length of polyphenylene chains fabricated from on-surface synthesis. We foresee that computer vision methods will be frequently used in analyzing image data in the field of surface chemistry.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Applying a Deep-Learning-Based Keypoint Detection in Analyzing Surface Nanostructures
Date Crossref
13/07/2023
Éditeur
MDPI AG
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

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