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2023 conference-abstract

PO-1990 Monitoring and Quality Assurance of scanned proton pencil beams using a CMOS detector

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Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
PO-1990 Monitoring and Quality Assurance of scanned proton pencil beams using a CMOS detector
Date Crossref
01/05/2023
Éditeur
Elsevier BV
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les sujets associés

Electron and X-Ray Spectroscopy TechniquesIntegrated Circuits and Semiconductor Failure AnalysisParticle Detector Development and Performance

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