A Synopsys TCAD-based workflow to support technology evaluation at 3nm and beyond
Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Technology evaluation of new nodes is becoming increasingly complex; where transistor performance was once the critical metric, technology evaluation currently requires more complex metrics such as AC power and area. We present a method to utilize Synopsys TCAD to generate HSPICE collateral from device and process simulation to enable circuit simulation. This workflow is automated to support generation of packaged standard cell library collateral, enabling early analysis of more complex circuits which utilize automated routing tools to create. This workflow enables a much more accurate and complete picture of technology performance in a faster way than traditional PDK-based workflows.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- A Synopsys TCAD-based workflow to support technology evaluation at 3nm and beyond
- Date Crossref
- 30/04/2023
- Éditeur
- SPIE
- Type
- proceedings-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.