2023 article

Dynamic self-test scheme and authentication protocol for improving robustness of strong PUF

Yan Li, Weifeng Yang, Jiang Li, Yanfang Yuan, Zhang Hu, Fengdi Wang, Yijun Cui

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Titre Crossref: Dynamic self-test scheme and authentication protocol for improving robustness of strong PUF
Date Crossref: 01/09/2023
Éditeur: Elsevier BV
Type: journal-article

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Où se fait cette recherche

Beijing Microelectronics Technology Institute pays non établi dans la notice
Institution
Nanjing University of Aeronautics and Astronautics pays non établi dans la notice
Université ou école supérieure
State Grid Key Laboratory of Power Industrial Chip Design and Analysis Technology pays non établi dans la notice
Structure de recherche

Beijing Microelectronics Technology Institute, Nanjing University of Aeronautics and Astronautics et State Grid Key Laboratory of Power Industrial Chip Design and Analysis Technology.

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