SwissFEL KB-optics at-wavelength wavefront characterisation
Rattachement africain : ch, de. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Steering x-ray beams from the source towards the experiment without distorting their wavefront defines extraordinary high-quality requirements on the production of the x-ray optics. We report on how this demand settled with in situ shot-to-shot wavefront sensing optimization of KB optics at SwissFEL beamlines. This contribution presents methodology that combines moir´e interferometry and single-phase-grating Talbot interferometry. We discuss an online Kirkpatrick-Baez (KB) test plan at the Cristallina beamline based on single phase grating Talbot interferometry, demonstrating progressive optimization steps in minimizing KB wavefront distortion.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- SwissFEL KB-optics at-wavelength wavefront characterisation
- Date Crossref
- 16/06/2023
- Éditeur
- SPIE
- Type
- proceedings-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Paul Scherrer Institute pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
European X-Ray Free-Electron Laser pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
Paul Scherrer Institut (Switzerland) pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
European XFEL GmbH (Germany) pays non établi dans la noticeEntreprise
Paul Scherrer Institute, European X-Ray Free-Electron Laser et Paul Scherrer Institut (Switzerland), avec 1 autre affiliation.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.